晖景 · SWIR 科学级制冷热像仪
F7S · 640×512 制冷 MCT · 0.9~2.7μm
产品介绍
晖景 F7S 为 640×512 制冷 MCT 短波热像仪，0.9–2.7 μm，IWR 全幅 117 Hz、开窗超 1000 Hz，支持 GigE Vision 与锁相同步。
产品概述
SWIR 科学级制冷热像仪 面向科研与高端 R&D 成像需求。 从热像到光谱定量
- 不同波段对应不同材料透过/发射特性，需按目标与背景选型
- 科学级制冷相机适合长时间积分与弱信号检测
- 可与光谱、光束分析或气体滤波成像方案组合
- SWIR 常用于半导体、湿法工艺与激光测量；MWIR/LWIR 侧重热辐射与气体
- InGaAs、MCT、QWIP 等探测器决定截止波长与 NETD
- 镜头 F 数、积分时间与校正（NUC/坏点）影响定量精度
晖景 · SWIR 科学级制冷热像仪 · 型号规格
短波 MCT 制冷探测器，0.9–2.7 μm；IWR 读出下全幅 117 Hz，开窗可超 1000 Hz，适合半导体微区缺陷与锁相检测。
共 1 款
| 型号 | 类型 | 分辨率 (px) | 光谱范围 (µm) | 帧率 (Hz) | 最大帧率 (Hz) | 像元 (µm) | NETD | 满井容量 | 曝光时间 | ADC | 测温范围 | 测温精度 | 防护等级 | 工作温度 | 参数表 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| F7S | Cooled MCT | 640×512 | 0.9–2.7 | 117 | 开窗＞1000 | 15 | ≤50 mK | IWR 5.5 Me⁻ / ITR 6.5 Me⁻ | 0.5 μs~1 s | 16 bit | 100–3000 ℃ | 2 ℃或 2% | IP54 | -20 to 50 °C | 查看 PDF |
经典案例
芯片检测
精准捕捉芯片温度分布，提升性能与可靠性。
高能实验
实时监测能量分布，保障实验安全与数据精准。
科学研究
高精度热成像，助力高端智能制造与科研突破。
目标探测
复杂环境下精准识别目标，提升任务完成效率。